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摘要 1f"LAs`% osJ;"B36
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楊氏干涉實(shí)驗(yàn)是顯示光的波動(dòng)特質(zhì)的著名實(shí)驗(yàn)之一。這是當(dāng)今幾個(gè)量子光學(xué)實(shí)驗(yàn)的基礎(chǔ)。 我們通過使用可調(diào)節(jié)狹縫寬度和狹縫距離的雙狹縫，在VirtualLab Fusion中重現(xiàn)了這個(gè)著名的實(shí)驗(yàn)。 +U%U3tAvs
使用一個(gè)單點(diǎn)光源，我們檢查了縫隙寬度和縫隙距離對(duì)干涉的影響；在擴(kuò)展光源的情況下，我們觀察到干涉對(duì)比度如何隨光源的橫向擴(kuò)展而變化。 }/% (7F f{
I#]$H#}Av )7e[o8O_6 任務(wù)描述-單個(gè)軸上點(diǎn)光源 ydNcbF%K
bIP'(B#1K 4 I> I 固定狹縫距離（500μm）和變化的狹縫寬度 \gh`P S-B { &'u1y
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