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摘要 ,%<ICusZ GMOnp$@H^s 在干涉儀中，條紋的對(duì)比度可能取決于光源的相干特性。例如，在具有一定帶寬的光源的邁克爾遜干涉儀中，干涉條紋對(duì)比度隨光程差的不同而變化。通過(guò)測(cè)量可動(dòng)鏡不同位置的干涉圖對(duì)比度，可以得到光源的相干長(zhǎng)度。典型的傅里葉變換光譜通常基于這種類型的光路。 #,B +&SK{ mZ0'-ax
 *c> B, !(nFq9~~Q 建模任務(wù) Gph:'3
*X Zg=jDPt}  9:JQ*O$ CXd/M~:! 橫向干涉條紋——50 nm帶寬 SbK6o:[ ul^VGW>i
 Vqp 3'=No J-5E# v 橫向干涉條紋——100 nm帶寬 k@}g?X`8 *|Bt!  RG e2N | B2T= O
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