-
UID:317649
-
- 注冊時間2020-06-19
- 最后登錄2025-10-22
- 在線時間1881小時
-
-
訪問TA的空間加好友用道具
|
摘要 uWM{JEOl ds?v'| 眾所周知,在干涉儀中,條紋對比度可能取決于光源的相干性。例如,在配有一定帶寬源的邁克爾遜干涉儀中,干涉條紋對比度隨著兩臂之間的光程差的增加而減小。通過測量可移動反射鏡在不同位置的干涉圖對比度,可以得出光源的相干長度。典型的傅立葉變換光譜學(xué)通常是基于這類光學(xué)裝置。 ~ ; -! n; )0Me?BRp <-,gAk)u 建模任務(wù) 7tcPwCc{ Lz:(6`S oE(7v7iY 非序列追跡 " e}3:U5n .h>8@5/s O }(VlR2 探測器附加組件 [$ejp>'Ud sIK;x]Q) 1$%V{4bJ 參數(shù)運行 tb$LriN p TeOW9 ,ztI,1"k 總結(jié)-組件… n(L\||#+ /C4^<k\ Vv8jEZ8 unBy&?&p 橫向干涉條紋–50 nm帶寬 'rr^2d]`ST ^d~1E Er mL_j4=ER@ 橫向干涉條紋–100 nm帶寬 D;_ MPN[ %7gkNa uU:CR>=AKW 軸上點的輻射通量測量 ,;(PwJe _h":>
|