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摘要 MLWHO$ C~T }emUpju<C
仿真技術的主要作用之一是提供一個平臺，以便在系統(tǒng)制造之前研究系統(tǒng)的性能，以便盡可能多地預防潛在的缺陷。雜散光是影響系統(tǒng)性能的最常見現(xiàn)象之一，雜散光可能有多個來源，其中包括系統(tǒng)中的內(nèi)部偽反射。在這個用例中，我們分析了高Na激光二極管準直透鏡系統(tǒng)中這種反射的存在，我們模擬了產(chǎn)生的鬼像對探測場的影響(由主準直光束的干涉引起的同心環(huán)圖案和由雜散光產(chǎn)生的二次發(fā)散)，并確定需要在透鏡系統(tǒng)的關鍵表面上涂上抗反射涂層。 =p@` bx ]rlZP1".  eg;7BZim{ ]UvB+M]Lv) 建模任務 qi,) l*?f *cb|9elF^  ,{0Y:/T '
 OXQ*Xpc DhM= q 準直系統(tǒng) U?0|2hR~ v+nXKNL  cI2Ps3~"Q
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 {lds?AuK ,XT,t[w 系統(tǒng)光線追跡結(jié)果 Vh\_Ko\V5 e/D{^ *~S  x/s:/YN' #*.!J zOg 完美的減反射(AR)涂層 }WsPu
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