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香港城市大學(xué)深圳研究院材料微觀分析及性能測(cè)試專業(yè)服務(wù)

發(fā)布:m2cts 2007-12-11 15:52 閱讀:8936
香港城市大學(xué)深圳研究院材料微觀分析及性能測(cè)試專業(yè)服務(wù) c#TV2@   
Materials Micro-analytical Characterization and Testing Services xxA^A  
( M2CTS ) _=}.Sg5Q  
香港城市大學(xué)深圳研究院材料微觀分析與性能測(cè)試專業(yè)服務(wù) \>x1#Vr>#V  
地址:深圳市南山區(qū)科技園虛擬大學(xué)園A-413 KW$.Yy  
電話:0755-26712113傳真:0755-26017717 8:[ l1d86  
郵箱:indshuogong@cityu.org.cn  \>||  
聯(lián)系人:龔碩 先生 y?U@F/^}N  
ae" o|Q  
http://www.cityu.org.cn 29cx(  
http://www.cityu.org.cn/service/demo_file.pdf L7R!,  
http://www.cityu.org.cn/service/introduction_file.doc sDAP'&  
-fp/3-  
z/fSs tN  
目標(biāo) \Foo:jON  
•    領(lǐng)導(dǎo)技術(shù)服務(wù)發(fā)展潮流,在珠江三角洲地區(qū)為廣大廠家包括制造業(yè),能源業(yè),建筑及建材業(yè)等提供高水平的材料微觀分析和性能測(cè)試專業(yè)服務(wù)。 d"L(eI}G  
•    通過(guò)提供服務(wù),促進(jìn)城大與廣大工業(yè)廠商之間的專業(yè)技術(shù)合作交流,推動(dòng)科技成果轉(zhuǎn)化。 6\k~q.U@XI  
uIBN !\j  
適用客戶 [5tvdW6Z &  
半導(dǎo)體,建筑業(yè),輕金屬業(yè),新材料,包裝業(yè),模具業(yè),科研機(jī)構(gòu),高校,電鍍,化工,能源,生物制藥,光電子,顯示器。 ;YSe:m*  
主要實(shí)驗(yàn)室 AN3oh1xe:  
+*,!q7Gt  
一、金相實(shí)驗(yàn)室 bg|dV  
•  Leica DM/RM 光學(xué)顯微鏡 41P0)o  
主要特性:用于金相顯微分析,可直觀檢測(cè)金屬材料的微觀組織,如原材料缺陷、偏析、初生碳化物、脫碳層、氮化層及焊接、冷加工、鑄造、鍛造、熱處理等等不同狀態(tài)下的組織組成,從而判斷材質(zhì)優(yōu)劣。須進(jìn)行樣品制備工作,最大放大倍數(shù)約1400倍。 Kwi+}B!  
•  Leica 體視顯微鏡 'T$Cw\F&  
主要特性:1、用于觀察材料的表面低倍形貌,初步判斷材質(zhì)缺陷; :{4C2qK>  
2、觀察斷口的宏觀斷裂形貌,初步判斷裂紋起源。 3iUJ!gK  
• 熱振光模擬顯微鏡 :,fT^izew  
• 圖象分析儀 "?<(-,T  
• 萊卡DM/RM 顯微鏡附 CCD數(shù)碼 照相裝置 :W6'G@ p  
1rs.  
二、電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)室 :aBm,q9i:}  
• 掃描電子顯微鏡(附電子探針) (JEOL JSM5200,JOEL JSM820,JEOL JSM6335) WP?]"H  
主要特性: -<9Qez)y  
1、用于斷裂分析、斷口的高倍顯微形貌分析,如解理斷裂、疲勞斷裂(疲勞輝紋)、晶間斷裂(氫脆、應(yīng)力腐蝕、蠕變、高溫回火脆性、起源于晶界的脆性物、析出物等)、侵蝕形貌、侵蝕產(chǎn)物分析及焊縫分析。 +~ Hb}0ry  
2、附帶能譜,用于微區(qū)成分分析及較小樣品的成分分析、晶體學(xué)分析,測(cè)量點(diǎn)陣參數(shù)/合金相、夾雜物分析、濃度梯度測(cè)定等。 bDudETl  
3、用于金屬、半導(dǎo)體、電子陶瓷、電容器的失效分析及材質(zhì)檢驗(yàn)、放大倍率:10X—300,000X;樣品尺寸:0.1mm—10cm;分辯率:1—50nm。 % 8wBZ~1-  
• 透射電子顯微鏡(菲利蒲 CM-20,CM-200) `\|tXl.  
主要特性: BMI`YGjY1  
1、需進(jìn)行試樣制備為金屬薄膜,試樣厚度須<200nm。用于薄膜表面科學(xué)分析,帶能譜,可進(jìn)行化學(xué)成分分析。 v 2 p  
2、有三種衍射花樣:斑點(diǎn)花樣、菊池線花樣、會(huì)聚束花樣。斑點(diǎn)花樣用于確定第二相、孿晶、有序化、調(diào)幅結(jié)構(gòu)、取向關(guān)系、成象衍射條件。菊池線花樣用于襯度分析、結(jié)構(gòu)分析、相變分析以及晶體精確取向、布拉格位移矢量、電子波長(zhǎng)測(cè)定。會(huì)聚束花樣用于測(cè)定晶體試樣厚度、強(qiáng)度分布、取向、點(diǎn)群、空間群及晶體缺陷。 WrcmC$ff  
^$}O?y7O  
三、X射線衍射實(shí)驗(yàn)室 <VSB!:ew  
•  XRD-Siemens500—X射線衍射儀 'J3yJ{  
主要特性: 'CSjj@3