一篇關(guān)于中心偏的論文——偏心量測(cè)技術(shù)與發(fā)展，需要的可以下下看看！第一次發(fā)貼，請(qǐng)多支持！ VF`! ks
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近年來(lái)，由于數(shù)字信息產(chǎn)業(yè)爆發(fā)性的成長(zhǎng)，小尺寸光學(xué)透鏡如讀寫(xiě)鏡頭、數(shù)字相機(jī)、手機(jī)相機(jī)與光通訊等相關(guān)組件之應(yīng)用需求大幅增加。隨著模造玻璃成形與射出成形等相關(guān)高精密模具產(chǎn)業(yè)的蓬勃發(fā)展，此類(lèi)軸對(duì)稱(chēng)光學(xué)組件在制作或系統(tǒng)組裝時(shí)，光軸與旋轉(zhuǎn)對(duì)稱(chēng)軸若不重合，將產(chǎn)生偏心誤差，而此偏心誤差對(duì)于低 f/# 值及短背焦 (back focal length, BFL) 之小尺寸光學(xué)透鏡成像質(zhì)量具有關(guān)鍵性的影響。偏心誤差可分為兩種來(lái)源；一種是光軸與幾何中心軸之間的橫向偏移 (lateral displacement)；另一種是光軸與幾何中心軸之間的傾斜 (tilt)。鑒于此類(lèi)光學(xué)透鏡廣泛應(yīng)用及其光學(xué)系統(tǒng)組裝校正的要求，對(duì)于組件偏心誤差之檢測(cè)評(píng)估，則是制作高精度光學(xué)鏡片之一重要課題。本文簡(jiǎn)介偏心量測(cè)原理及未來(lái)開(kāi)發(fā)過(guò)程中可預(yù)期之關(guān)鍵技術(shù)與挑戰(zhàn)，以期提升國(guó)內(nèi)光學(xué)產(chǎn)業(yè)相關(guān)檢測(cè)能力。。。。。。
