浙江大學(xué)光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)軟件 )= N.z6?
Autofilm 1.0功能簡(jiǎn)介 >9g^-~X;v
Autofilm 1.0是浙江大學(xué)薄膜研究所開(kāi)發(fā)的一套光學(xué)薄膜計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)系統(tǒng)，它包括光學(xué)薄膜特性計(jì)算、優(yōu)化設(shè)計(jì)和監(jiān)控誤差模擬三大模塊。各個(gè)模塊的基本功能如下： guy!/zQ>A
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l 特性計(jì)算： 給定膜系每層的折射率和光學(xué)厚度，以及基板、入射介質(zhì)等參數(shù)，求得各個(gè)波長(zhǎng)上的光學(xué)特性。 '/ueY#eG
（1） 可以計(jì)算特定波長(zhǎng)和入射角的反射率、透過(guò)率、反射位相變化、透射位相變化等特性值。 %74f6\
（2） 繪制透、反射率，位相變化相對(duì)于波長(zhǎng)和入射角的曲線。 Ex}TDmTu
（3） 繪制特定波長(zhǎng)、入射角下的導(dǎo)納圖。 su-0G?c
（4） 可計(jì)算有吸收、色散的膜系，系統(tǒng)提供了材料庫(kù)，用戶可自行修改材料庫(kù)中的值和新增材料。 #s}tH$MT#
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l 優(yōu)化設(shè)計(jì)：給定特定波長(zhǎng)和入射角情況下所要求的特性，求出膜系的結(jié)構(gòu)。 ~Ty6]A
（1） 可以針對(duì)特定波長(zhǎng)和角度下各種偏振狀態(tài)的反射率、透過(guò)率、位相變化、位相變化差等條件進(jìn)行優(yōu)化。 Jju?v2y `
（2） 系統(tǒng)中提供了五種優(yōu)化合成的方法：Powell共軛法和單純形法這兩種局域搜索的方法；統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)法和遺傳算法這兩種帶有隨機(jī)性質(zhì)的搜索方法；Needle方法這種自動(dòng)合成的方法。 X5tV Xd
（3） 各種優(yōu)化合成的方法可以隨時(shí)中斷并交替使用。 s, #$o3
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l 監(jiān)控誤差模擬：給定材料折射率及監(jiān)測(cè)信號(hào)誤差，用計(jì)算機(jī)模擬最后得到的膜系結(jié)構(gòu)，分析成品率。 M9yqJPS}B
（1） 可以針對(duì)每一層輸入折射率的誤差范圍，同時(shí)輸入總的信號(hào)監(jiān)測(cè)誤差，計(jì)算并繪制出最后的特性曲線。從曲線的離散程度可以分析出成品率的高低。 Z\?!& &
（2） 同時(shí)給出模擬得到的膜系結(jié)構(gòu)。
