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光行天下 -> 光學(xué)設(shè)計(jì)及經(jīng)驗(yàn) -> 關(guān)于光學(xué)設(shè)計(jì)中的公差問題 [點(diǎn)此返回論壇查看本帖完整版本] [打印本頁(yè)]

frankforoptics 2020-10-15 15:27

關(guān)于光學(xué)設(shè)計(jì)中的公差問題

現(xiàn)在做的系統(tǒng)RMS半徑要求小于1.85微米,視場(chǎng)15-20度,F(xiàn)數(shù)在1.4左右,系統(tǒng)的性能上達(dá)到要求。但是有個(gè)表面的偏心傾斜公差很敏感,如果控制表面的曲率會(huì)對(duì)性能有挺大影響,這種情況下該怎么減小公差敏感度?還是需要重新確定初始結(jié)構(gòu)?結(jié)構(gòu)圖不太方便附上,見諒。希望大家能給與指點(diǎn)。
沙突兀 2020-10-16 18:00
試著用Raid操作數(shù)控制這個(gè)面的光線入射角
楚靜竹 2020-10-19 09:03
多重,理想情況和偏芯一起優(yōu)化
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