| infotek |
2020-12-08 10:09 |
光束足跡分析
簡(jiǎn)介 TK>}$.c%+
b #U%aPH
當(dāng)一個(gè)分析請(qǐng)求執(zhí)行時(shí)，重要的是記住在FRED中的分析面只是在光線追跡結(jié)束后的后處理(過濾)光線。在光線追跡的過程中，它們不收集光線信息，無(wú)論光線的軌跡是否穿過分析網(wǎng)格。那么問題來(lái)了，“如何分析在光線追跡的過程中光線穿過光學(xué)空間的光場(chǎng)？” J)->
7h =
"F}Ip&]hAG
一種選擇是使用FRED探測(cè)器實(shí)體(Detector Entity)結(jié)構(gòu)。探測(cè)器實(shí)體與分析面類似，不過它們可以放在任何光學(xué)空間，而且可以在光線追跡的過程中動(dòng)態(tài)地收集光線信息(即光線穿過它們的收集網(wǎng)格)。目前，探測(cè)器實(shí)體對(duì)于相干或偏振光不起作用，只可以執(zhí)行輻照度、照度和彩色圖像的分析。 HXQ r tJ
=R "tnjR
盡管FRED沒有一個(gè)內(nèi)置的“光束足跡分析”程序，但我們將在FRED中使用探測(cè)器實(shí)體結(jié)構(gòu)來(lái)實(shí)現(xiàn)類似的功能。 i5"
| |