| infotek | 2022-09-29 08:34 |
使用部分相干光的楊氏干涉實(shí)驗(yàn)雙縫干涉實(shí)驗(yàn)最初由Thomas Young在19世紀(jì)初進(jìn)行，它顯示了光的波動(dòng)性質(zhì)，是空間相干測(cè)量的重要技術(shù)。在VirtualLab Fusion中，我們用單點(diǎn)光源和擴(kuò)展光源復(fù)現(xiàn)了Young的實(shí)驗(yàn)。我們通過(guò)檢查干涉條紋對(duì)比度的變化來(lái)研究擴(kuò)展源的相干特性。 楊氏干涉實(shí)驗(yàn)  在 VirtualLab Fusion中,我們復(fù)現(xiàn)了著名的楊氏干涉實(shí)驗(yàn)，并檢驗(yàn)了狹縫寬度、狹縫距離以及使用擴(kuò)展源的影響。 編程一個(gè)雙縫函數(shù)  給出了一個(gè)用于定義雙狹縫函數(shù)的示例片段，該函數(shù)具有可自定義的狹縫寬度和狹縫之間的距離。 |
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