蘋果公司“光學(xué)測量系統(tǒng)中的去斑”專利公布

據(jù)國家知識產(chǎn)權(quán)局公告，蘋果公司申請一項名為“光學(xué)測量系統(tǒng)中的去斑”，公開號CN117760960A，申請日期為2023年9月。 !z]{zM%  
專利摘要顯示，本公開涉及光學(xué)測量系統(tǒng)中的去斑。實施方案涉及在測量期間利用多個發(fā)射器來發(fā)射光的光學(xué)測量系統(tǒng)，以及使用這些光學(xué)測量系統(tǒng)來執(zhí)行測量的方法。該光學(xué)測量系統(tǒng)可包括：光產(chǎn)生組件，該光產(chǎn)生組件被配置為經(jīng)由光源單元產(chǎn)生光；以及光子集成電路，該光子集成電路包括發(fā)射組，該發(fā)射組具有多個發(fā)射器。這些發(fā)射器中的每個發(fā)射器光學(xué)地耦接到該光產(chǎn)生組件以接收從該光產(chǎn)生組件產(chǎn)生的光，并且可從該光子集成電路的表面發(fā)射該光。該光學(xué)測量系統(tǒng)可執(zhí)行測量，其中該光產(chǎn)生組件產(chǎn)生光并且該多個發(fā)射器中的每個發(fā)射器同時地發(fā)射從該光產(chǎn)生組件接收的光。