CODE V中改變畫(huà)圖時(shí)的缺省設(shè)置
CODE V力求為所有的選項(xiàng)設(shè)置最智能化的參數(shù),但是也提供了許多可以定制的內(nèi)容,使得您可以改變這些缺省設(shè)置,符合您的光學(xué)系統(tǒng)或者您的使用習(xí)慣。
CODE V力求為所有的選項(xiàng)設(shè)置最智能化的參數(shù),但是也提供了許多可以定制的內(nèi)容,使得您可以改變這些缺省設(shè)置,符合您的光學(xué)系統(tǒng)或者您的使用習(xí)慣。例如在畫(huà)圖選項(xiàng) (Display> ViewLens menu; or VIE command). 這里我們介紹如何改變3個(gè)缺省設(shè)置。 1.元件內(nèi)的光線是否繪制 (RIE Y|N). 缺省是繪制 (RIE Y),如圖: ![]() 你可以去掉這個(gè)小勾,改為不繪制:( RIE N command) ![]() 對(duì)于有許多視場(chǎng)的系統(tǒng),或者有許多薄元件的系統(tǒng),這樣的設(shè)置更容易看清透鏡和透鏡組。 2.被阻擋的光線是否繪制 (CAB Y|N). 作為診斷選項(xiàng),繪圖時(shí)會(huì)繪制出全部的光線,盡管一些光線會(huì)被孔徑擋住。 (CAB N): ![]() |

1.行業(yè)新聞、市場(chǎng)分析。 2.新品新技術(shù)(最新研發(fā)出來(lái)的產(chǎn)品技術(shù)介紹,包括產(chǎn)品性能參數(shù)、作用、應(yīng)用領(lǐng)域及圖片); 3.解決方案/專業(yè)論文(針對(duì)問(wèn)題及需求,提出一個(gè)解決問(wèn)題的執(zhí)行方案); 4.技術(shù)文章、白皮書(shū),光學(xué)軟件運(yùn)用技術(shù)(光電行業(yè)內(nèi)技術(shù)文檔);
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