在LightTools中反向追跡按照功能劃分為：測(cè)試點(diǎn)分析（照度和強(qiáng)度）和網(wǎng)格分析（照度、強(qiáng)度、空間亮度和角亮度），一個(gè)是局部數(shù)據(jù)分析（點(diǎn)，矩形或圓形區(qū)域），一個(gè)是整體接收器數(shù)據(jù)分析（整個(gè)接收器網(wǎng)格）。

測(cè)試點(diǎn)分析：

優(yōu)點(diǎn):在接收器特定位置產(chǎn)生模擬結(jié)果，相對(duì)于正向追跡只需要較少的光線就能產(chǎn)生準(zhǔn)確的模擬結(jié)果。測(cè)試點(diǎn)分析可為設(shè)計(jì)人員提供有價(jià)值的分析選擇（重點(diǎn)采樣），通常用于分析外部照明，投影儀，普通照明和車燈等系統(tǒng)。

圖1.反向追跡數(shù)字投影儀系統(tǒng)

1.什么是測(cè)試點(diǎn)？

測(cè)試點(diǎn)是用于分析接收器上特定位置處的照度或強(qiáng)度的檢測(cè)器，類似于測(cè)試環(huán)境中的光檢測(cè)器。 LightTools允許您將探測(cè)器指定為點(diǎn)，矩形或圓形貼片。 您可以指定任意數(shù)量的測(cè)試點(diǎn)，并根據(jù)需要修改它們的尺寸和位置。 下圖顯示了表面接收器上照度測(cè)試點(diǎn)的默認(rèn)模式。

圖2.照度測(cè)試點(diǎn)

圖3.強(qiáng)度測(cè)試點(diǎn)