CODE V使用示例:緊湊型鏡頭設(shè)計(jì)(1)
CODE V提供了一套全面的工具來幫助您設(shè)計(jì)最先進(jìn)的成像系統(tǒng)。本設(shè)計(jì)的主要目的是為用戶介紹CODE V中的一些關(guān)鍵光學(xué)設(shè)計(jì)選項(xiàng)工具。
本例我們需要對(duì)最小元件邊緣厚度,最小空氣中心厚度,最小空氣邊緣厚度,元件中心厚度最小值和最大值等一般約束進(jìn)行設(shè)置,并添加有效焦距(EFL)和總長(OAL)等特定約束。注意,設(shè)置好相關(guān)優(yōu)化選項(xiàng)后,要保存優(yōu)化序列,在后面的非球面專家和玻璃專家過程中會(huì)用到優(yōu)化序列。 經(jīng)過快速的優(yōu)化過程后,在優(yōu)化窗口的選項(xiàng)卡上的每個(gè)繪圖頁的底部可以查看誤差函數(shù)值的變化過程。在這個(gè)例子中,誤差函數(shù)開始于1300左右,然后降低到130多一點(diǎn)。 圖7.優(yōu)化后設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu) 優(yōu)化后的鏡頭可以看到厚度變化,空氣間隙和曲率的變化。您還可以看到現(xiàn)在光線在像面上有更小的匯聚點(diǎn)。這時(shí)我們可以用優(yōu)化前使用過的評(píng)估工具對(duì)當(dāng)前光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行評(píng)估。 圖8.優(yōu)化前的點(diǎn)列圖(左圖)與優(yōu)化后的點(diǎn)列圖(右圖)的對(duì)比 如你所見,優(yōu)化后的成像效果比之前更好。在相同比例尺下,與優(yōu)化前的結(jié)構(gòu)相比,聚焦點(diǎn)在像平面上要小得多。類似地,您可以查看快速光線像差、點(diǎn)列圖和MTF -衍射來評(píng)估性能,這里就不一一比對(duì)了。 未完待續(xù)... ![]() 本文來自歐熠光電微信公眾號(hào)ShanghaiOE,推薦關(guān)注!
|

1.行業(yè)新聞、市場(chǎng)分析。 2.新品新技術(shù)(最新研發(fā)出來的產(chǎn)品技術(shù)介紹,包括產(chǎn)品性能參數(shù)、作用、應(yīng)用領(lǐng)域及圖片); 3.解決方案/專業(yè)論文(針對(duì)問題及需求,提出一個(gè)解決問題的執(zhí)行方案); 4.技術(shù)文章、白皮書,光學(xué)軟件運(yùn)用技術(shù)(光電行業(yè)內(nèi)技術(shù)文檔);
如果想要將你的內(nèi)容出現(xiàn)在這里,歡迎聯(lián)系我們,投稿郵箱:service@www.whymw.com
文章點(diǎn)評(píng)

-
hyqfxlt:新版本真的的確不一樣了,GUI也好看多了(2019-08-14)
光學(xué)軟件
24小時(shí)人氣排行
- 山東師大在先進(jìn)光學(xué)調(diào)控方面取得進(jìn)展
- 我國研究團(tuán)隊(duì)在單周期飛秒激光產(chǎn)生與表征研究取得進(jìn)展
- 上海光機(jī)所在表面模調(diào)控光子帶隙空芯光纖研究中獲系列進(jìn)展
- 我國單光子探測(cè)器實(shí)現(xiàn)重大突破
- 山西大學(xué)在磁性量子材料光電特性研究中取得重要進(jìn)展
- 上海光機(jī)所在新型雙光梳溫室氣體高精度檢測(cè)技術(shù)方面取得重要突破
- 福建師大在金屬團(tuán)簇X射線成像領(lǐng)域取得重要進(jìn)展
- 日盲紫外非線性光學(xué)晶體研究取得進(jìn)展
最新文章
- 日盲紫外非線性光學(xué)晶體研究取得進(jìn)展
- 福建師大在金屬團(tuán)簇X射線成像領(lǐng)域取得重要進(jìn)展
- 上海光機(jī)所在新型雙光梳溫室氣體高精度檢測(cè)技術(shù)方面取得重要突破
- 山西大學(xué)在磁性量子材料光電特性研究中取得重要進(jìn)展
- 我國單光子探測(cè)器實(shí)現(xiàn)重大突破
- 國防科大在高功率激光柔性傳輸領(lǐng)域獲得重要進(jìn)展
- 山東師范大學(xué)在超維時(shí)空光場(chǎng)調(diào)控領(lǐng)域取得重要進(jìn)展
- 上海光機(jī)所在表面模調(diào)控光子帶隙空芯光纖研究中獲系列進(jìn)展
- 我國研究團(tuán)隊(duì)在單周期飛秒激光產(chǎn)生與表征研究取得進(jìn)展
- 山東師大在先進(jìn)光學(xué)調(diào)控方面取得進(jìn)展





