通過在仿真模型中探測(cè)器的每個(gè)象限上增加能量接收器，可以采集落在各個(gè)象限的能量，圖5是其中一個(gè)象限上所接受到的能量值。

圖5.一個(gè)象限上的能量值

通過以上分析可以評(píng)估系統(tǒng)的指令輸出情況，對(duì)系統(tǒng)的整體評(píng)估提供依據(jù)。

2.2 雜散光分析

雜散光是光學(xué)系統(tǒng)中非正常光路中的光線通過若干次的反射或散射落在探測(cè)器上并引起響應(yīng)的現(xiàn)象。LightTools軟件提供了雜散光分析功能，通過對(duì)不同光學(xué)面和機(jī)械面的設(shè)置，可以較為真實(shí)地模擬光線在系統(tǒng)中的傳輸，從而進(jìn)一步分析系統(tǒng)的雜散光分布情況[8-12]。光學(xué)系統(tǒng)中的光線追跡如圖6所示。圖6中（a）為擬進(jìn)行雜散光分析的光學(xué)系統(tǒng)，光學(xué)系統(tǒng)視場(chǎng)為±15°，線性區(qū)為6°，采用三片式透射結(jié)構(gòu)；（b）為30°光線入射光學(xué)系統(tǒng)的傳輸情況。由圖6可以看出，雖然光線在系統(tǒng)中進(jìn)行了多次反射和折射，但是并未有光線落在探測(cè)器上，該角度并不會(huì)產(chǎn)生雜散光。

圖6.光學(xué)系統(tǒng)中的光線追跡

在設(shè)計(jì)過程中，將設(shè)置不同的角度對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行全面的仿真評(píng)估。當(dāng)某個(gè)角度存在雜散光時(shí)，將有光線落在探測(cè)器上。對(duì)上圖的光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行仿真，當(dāng)入射光線為16°時(shí)，有若干光線落在探測(cè)器上，如圖7所示。當(dāng)0°光線入射時(shí)在探測(cè)器上形成的能量為0.5 W，該部分雜散光在探測(cè)器上形成的能量為3.2×10^-7W。

圖7.落在探測(cè)器上的光線