《現(xiàn)代
光學(xué)計(jì)量與測試》較系統(tǒng)地介紹了光學(xué)計(jì)量測試的基礎(chǔ)理論、計(jì)量基準(zhǔn)、計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)和光學(xué)
參數(shù)測量方法,涉及光輻射、
激光參數(shù)、光輻射探測器參數(shù)、光學(xué)材料參數(shù)、
成像光學(xué)、微小光學(xué)和微光夜視等方面的計(jì)量與測試技術(shù)。
#z(:n5$F kORWj< 《現(xiàn)代光學(xué)計(jì)量與測試》可作為從事光學(xué)計(jì)量測試工作的科技人員的業(yè)務(wù)參考書,也可作為工程光學(xué)專業(yè)和測試計(jì)量技術(shù)與儀器專業(yè)研究生教學(xué)參考書。
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8>C4w 5kF ,Q"'q0hM= 目錄
'Dfs&sm 第1章 緒論1
RE t&QP 1.1 光學(xué)計(jì)量測試的研究范疇與發(fā)展歷程1
7UBDd1 1.2 光學(xué)計(jì)量測試技術(shù)的發(fā)展趨勢2
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