摘要:用實(shí)驗(yàn)方法研究紫外曝光對液晶顯示器功耗電流的大小及分布的影響。 } q?q)cG
關(guān)鍵詞:紫外曝光; 功耗電流 Su'l &]
中圖分類號: TN141. 9 文獻(xiàn)標(biāo)識碼:B Tcq@Q$H
1 前言 &*~_ "WyU
在工業(yè)化生產(chǎn)中,液晶顯示器(LCD) 大多采用紫外光(UV) 固化膠封口和裝腳固定。當(dāng) /8P7L'Rb
UV照射時,除使UV膠固化外,往往會使LCD 功耗電流變大,甚至引起局部功耗電流嚴(yán)重變 u#3Cst8Y
大, 產(chǎn)生局部顯示發(fā)朦。具體表現(xiàn)為封口處顯示不黑(正型模式下) 或顯示不白(負(fù)型模式 3:b5#c?R-
下) ,尤其在測試電壓較低時更為嚴(yán)重。為了了解UV曝光對LCD 功耗電流大小及分布的影 .;&4'ga4
響,以便在生產(chǎn)中合理控制UV曝光工藝,改善LCD 的性能,我們進(jìn)行了一系列實(shí)驗(yàn)。
