由于數(shù)字光柵投影儀的光強傳遞函數(shù)對于正弦投影條紋的質(zhì)量以及相位測量精度起著至關重要的作用，本文提出了一種校正光學三維掃描儀光強傳遞函數(shù)的新方法。首先，分析了由于投影儀非線性響應引起的光柵諧波的相位測量誤差；然后，通過投影一組不同灰度級的圖像，并利用光功率計測出數(shù)字投影儀投出圖像的亮度。接著，通過分析得到數(shù)字投影儀的非線性響應特性曲線，再經(jīng)過數(shù)據(jù)處理，即可獲得投影儀的光強傳遞函數(shù)；最后，對光強傳遞函數(shù)進行反函數(shù)逆變換，得到一個校正后的非正弦光柵，利用投影儀對該光柵的投影即可在被測物體表面上獲得一個正弦光柵。數(shù)字投影儀對標準平板的測量結(jié)果表明，校正前平均誤差為0.71 mm，校正后為0.55 mm；對于標準量塊的測量，校正前的平均誤差為0.62 mm，校正后為0.15 mm。上述結(jié)果表明，本文提出的方法可以減小由于系統(tǒng)非線性響應引起的測量誤差并提高測量精度。