隨著科技的發(fā)展，尖端產(chǎn)品和現(xiàn)代化武器對(duì)光學(xué)元件質(zhì)量要求越來越高，非球面光學(xué)元件因性能優(yōu)良而應(yīng)用越來越廣泛，需求越來越迫切，非球面元件面形檢測(cè)也成為研究者的工作重點(diǎn)，該文著重闡述現(xiàn)有的非球面光學(xué)元件面形檢測(cè)方法，介紹各種方法的檢測(cè)原理，并給出了各種方法的優(yōu)缺點(diǎn)。

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