摘 要 ：冷反射是評(píng)價(jià)制冷型紅外光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量的一個(gè)重要參數(shù)。分析 了制冷紅外光學(xué)系統(tǒng)產(chǎn)生冷反射的原 因， 討論了在光學(xué)設(shè)計(jì)軟件中對(duì)冷反射現(xiàn)象的控制與分析方法； 提出了采用逆光路追跡光線的方法分析光學(xué)系統(tǒng)中 各個(gè)光學(xué)表面產(chǎn)生的冷反射大小； 設(shè)計(jì)了一個(gè)工作在長(zhǎng)波紅外波段的制冷型光學(xué)系統(tǒng)，系統(tǒng)焦距為 1 2 0 n l m； 采用逆光 路追跡像點(diǎn)彌散的方法分析了光學(xué)系統(tǒng)各個(gè)表面產(chǎn)生的冷反射大小。其結(jié)果與采用光學(xué)設(shè)計(jì)軟件給 出的冷反射評(píng) 價(jià)參數(shù) Y NI與I ／I b a r 、以及利用經(jīng)驗(yàn)公式計(jì)算得到的結(jié)果一致， 且采用逆光路追跡分析冷反射的方法更加直觀。 I Ceb2R
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關(guān)鍵詞 ：光學(xué)設(shè)計(jì)；紅外光學(xué)系統(tǒng)；冷反射；Y N
