干涉測(cè)量是用于精確測(cè)量中最廣泛應(yīng)用的技術(shù)之一。通過觀察和研究
條紋圖案，可以判斷表面形狀質(zhì)量或關(guān)于
光譜帶寬的儀表
信息。利用VirtualLab Fusion中非
序列場追跡技術(shù)，可以輕松地設(shè)置和分析
光學(xué)干涉儀。在這里提出兩個(gè)經(jīng)典的基于邁克爾遜干涉儀的例子：一個(gè)高質(zhì)量相干
激光光源，另一個(gè)寬帶白光光源。
4 i[3|hv' J=TbZL4y}4 基于激光的邁克爾遜干涉儀
L.15EXAB b]mRn{r? BoP%f '0N 借助VirtualLab Fusion中非序列追跡技術(shù)建立了該邁克爾遜干涉儀，并展示了不同配置中的干涉條紋。
G#Z%jO-XN 1z~;c| 白光邁克爾遜干涉儀
G`w,$:, Ydmz!CEu 7F3Hkvd[k 模擬使用氙氣燈作為光源的邁克爾遜干涉儀，充分考慮了光源的光譜特性（有限的相干長度）。
'E0{ zk t9m: E 了解更多信息，請(qǐng)發(fā)送郵件至：
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