帖子
勛章
關(guān)注
任務
掃描電鏡聚焦離子束能譜分析SEM,FIB,EDX 掃描電鏡聚焦離子束能譜分析SEM,FIB,EDX SEM/EDX（形貌觀測、成分分析）掃描電鏡（SEM）可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像。EDX是借助于分析試樣發(fā)出的元素特征X射線波長和強度實現(xiàn)的，根據(jù)不同元素特征X射線波長的不同來測定試樣所含的元素。通過對比不同元素譜線的強度可以測定試樣中元素的含量。通常EDX結(jié)合電子顯微鏡（SEM）使用，可以對樣品進行微區(qū)成分分析。 服務范圍：軍工，航天，半導體，先進材料等 服務內(nèi)容：1.材料表面形貌分析，微區(qū)形貌觀察 2.材料形狀、大小、表面、斷面、粒徑分布分析 3.薄膜樣品表面形貌觀察、薄膜粗糙度及膜厚分析 4.納米尺寸量測及標示 5.微區(qū)成分定性及定量分析 |
