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[轉(zhuǎn)載]全場光學(xué)相干掃描干涉儀 [復(fù)制鏈接]

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只看樓主倒序閱讀樓主發(fā)表于: 2020-04-26

摘要

掃描干涉儀是用于執(zhí)行表面高度測量的技術(shù)。通過利用白光光源的低相干性，僅當(dāng)光程長度差在相干長度內(nèi)時才會出現(xiàn)干涉圖樣。因此，它可以實現(xiàn)精確的顯微鏡測量。在本案例中，氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構(gòu)建并用于測量表面平滑變化的樣品。

建模任務(wù)

仿真干涉條紋

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