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摘要 n +;vjVS%
,[`$JNc 干涉測量是一種光學計量的重要技術(shù)。 它被廣泛應用于表面輪廓，缺陷，機械和高精度熱變形等領(lǐng)域的測量。 作為一個典型的例程，在非序列場追跡的幫助下，我們在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-曾德爾干涉儀，本案例清楚地展示了光學元件的傾斜和移位對干涉條紋圖案的影響。 cJ/]+|PQ p)3nyN=|_ 建模任務 -;pOh;W G 0 pN{y}x, })[($$f/ 元件傾斜引起的干涉條紋 %>y;zqZIU =& -[TPW  vv.PF~:
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