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ouyuu:光控一般分直射和反射控制。 ]w2nVC3 就是監(jiān)控監(jiān)控片或者產品的光學特性變化,來測量光學膜厚。 fQZ,kl 當光學膜厚是1/4入和其整數倍的時候,光量值會到達波峰或者波谷(稱之為PEAK)。其實我們可以把光控看成一個小型的只測固定波長的分光儀加一臺電腦, U Ke!zI ....... (2020-09-08 01:23) 0Q\6GCzN\
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