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- 注冊時間2020-06-19
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干涉測量作為最重要的光學(xué)測量技術(shù)之一已在各領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。我們將介紹兩個示例，利用輪廓掃描干涉儀測量表面形貌和利用Fabry-Pérot標(biāo)準(zhǔn)具實現(xiàn)光譜測量。得益于非序列擴展功能，這兩個應(yīng)用所采用的系統(tǒng)在VirtualLab中可以輕松地實現(xiàn)設(shè)置。不僅可以清晰地對其工作原理進行描述及可視化，利用非序列場追跡技術(shù)更能夠快速且精確地對這類系統(tǒng)進行分析。 c+b:K Ec*--]j*c 輪廓掃描干涉測量儀 jO&f*rxN
利用低相干氙燈光源，邁克爾遜干涉儀可以精確掃描給定樣品的表面輪廓。 ?%dCU~ z ;;y@z[ > 0J: U\S 利用標(biāo)準(zhǔn)具檢查鈉燈D光 R!/,E 在VirtualLab Fusion中使用非序列場追跡技術(shù)建模二氧化硅間隔標(biāo)準(zhǔn)具，并用將其于測量鈉D光。 ~e`;" n@4 SEQO2`]e: [Yx-l;78
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