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半導(dǎo)體測(cè)試失效分析介紹 芯片開(kāi)封Decap Decap即開(kāi)封，也稱(chēng)開(kāi)蓋，開(kāi)帽，指給完整封裝的IC做局部腐蝕，使得IC可以暴露出來(lái)，同時(shí)保持芯片功能的完整無(wú)損，保持 die，bond pads，bond wires乃至lead-frame不受損傷，為下一步芯片失效分析實(shí)驗(yàn)做準(zhǔn)備，方便觀察或做其他測(cè)試（如FIB，EMMI）， Decap后功能正常。 服務(wù)范圍：芯片開(kāi)封，環(huán)氧樹(shù)脂去除，IGBT硅膠去除，樣品剪薄 服務(wù)內(nèi)容：1.IC開(kāi)封（正面/背面） QFP， QFN， SOT，TO， DIP，BGA，COB等 2.樣品減薄（陶瓷，金屬除外） 3.激光打標(biāo) 無(wú)損檢測(cè)X-Ray X-Ray是利用陰極射線(xiàn)管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊，在撞擊過(guò)程中，因電子突然減速，其損失的動(dòng)能會(huì)以X-Ray形式放出。而對(duì)于樣品無(wú)法以外觀方式觀測(cè)的位置，利用X-Ray穿透不同密度物質(zhì)后其光強(qiáng)度的變化，產(chǎn)生的對(duì)比效果可形成影像，即可顯示出待測(cè)物的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，進(jìn)而可在不破壞待測(cè)物的情況下觀察待測(cè)物內(nèi)部有問(wèn)題的區(qū)域。 服務(wù)范圍：產(chǎn)品研發(fā)，樣品試制，失效分析，過(guò)程監(jiān)控和大批量產(chǎn)品觀測(cè) 服務(wù)內(nèi)容：1.觀測(cè)DIP、SOP、QFP、QFN、BGA、Flipchip等不同封裝的半導(dǎo)體、電阻、電容等電子元器件以及小型PCB印刷電路板 2.觀測(cè)器件內(nèi)部芯片大小、數(shù)量、疊die、綁線(xiàn)情況 3.觀測(cè)芯片crack、點(diǎn)膠不均、斷線(xiàn)、搭線(xiàn)、內(nèi)部氣泡等封裝缺陷，以及焊錫球冷焊、虛焊等焊接缺陷 無(wú)損檢測(cè)3D X-Ray X-Ray是利用陰極射線(xiàn)管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊，在撞擊過(guò)程中，因電子突然減速，其損失的動(dòng)能會(huì)以X-Ray形式放出。而對(duì)于樣品無(wú)法以外觀方式觀測(cè)的位置，利用X-Ray穿透不同密度物質(zhì)后其光強(qiáng)度的變化，產(chǎn)生的對(duì)比效果可形成影像，即可顯示出待測(cè)物的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，進(jìn)而可在不破壞待測(cè)物的情況下觀察待測(cè)物內(nèi)部有問(wèn)題的區(qū)域。 服務(wù)范圍：產(chǎn)品研發(fā)，樣品試制，失效分析，過(guò)程監(jiān)控和大批量產(chǎn)品觀測(cè) 服務(wù)內(nèi)容：1.觀測(cè)DIP、SOP、QFP、QFN、BGA、Flipchip等不同封裝的半導(dǎo)體、電阻、電容等電子元器件以及小型PCB印刷電路板 |
