Simulator是Essential Macleod的新增功能, 可以幫助我們回答這個問題。
光學薄膜中的公差評定是個實際問題。沒有一個好的、通用的分析技術。Essential Macleod里的一個簡單工具－Errors, 假定所有膜層中的厚度誤差都是隨機的，能夠顯示在許多薄膜中獨立控制命令不可能精確，而用其它的方法確實能夠構造這些薄膜。實事上，公差和誤差的影響很大程度上依賴于控制技術。通過將誤差的Monte Carlo近似擴展到控制過程的實際模型中去，Simulator解決了公差問題。使用由Runsheet創(chuàng)建的控制設計, Simulator模擬沉積的控制，同時引入隨機和系統(tǒng)效應，如信號中的噪聲，加工因素的不同，材料密度誤差等等，并且顯示這些參數(shù)對最后模擬的薄膜產(chǎn)品的影響。
Simulator比簡單的監(jiān)控問題回答得更多。所有與薄膜系統(tǒng)有關的其它的參數(shù)都可以轉換成檢查模擬和它們影響的參數(shù)。Simulator的結果顯示，在沒有改變系統(tǒng)中噪聲或精度時，某一膜層的監(jiān)控過程中的一個小小改變，對DWDM應用的多腔分束器的設計中，能否引起實質性的改進。
注：要Simulator操作正確，Runsheet提高必須也存在。
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