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芯片失效分析領(lǐng)取點列表 芯片失效分析領(lǐng)取點列表 彩頁自取點：2021年3月17-19日 上海新國際博覽中心 入場無需核酸檢測證明
彩頁主要內(nèi)容為失效分析項目Decap；X-Ray；3D X-Ray；SAT；IV；FIB；EMMI；SEM；EDX；OM；Probe；切割制樣；Rie；定點研磨；非定點研磨；高溫存儲；低溫存儲等介紹。  北京軟件產(chǎn)品質(zhì)量檢測檢驗中心（簡稱：北軟檢測）成立于2002 年7月，是經(jīng)北京市編辦批準，由北京市科學(xué)技術(shù)委員會和北京市質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局聯(lián)合成立的事業(yè)單位。2004年1月，國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局批準在北軟檢測基礎(chǔ)上籌建國家應(yīng)用軟件產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心（簡稱：國軟檢測），2004年10月國軟檢測通過驗收并正式獲得授權(quán)，成為我國第一個國家級的軟件產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗機構(gòu)。 智能產(chǎn)品檢測實驗室，能夠依據(jù)國際、國內(nèi)和行業(yè)標(biāo)準實施檢測工作，開展從底層芯片到實際產(chǎn)品，從物理到邏輯全面的檢測工作，提供芯片預(yù)處理、側(cè)信道攻擊、光攻擊、侵入式攻擊、環(huán)境、電壓毛刺攻擊、電磁注入、放射線注入、物理安全、邏輯安全、功能、兼容性和多點激光注入等安全檢測服務(wù)，同時可開展模擬重現(xiàn)智能產(chǎn)品失效的現(xiàn)象，找出失效原因的失效分析檢測服務(wù)，主要包括點針工作站（Probe Station）、反應(yīng)離子刻蝕（RIE）、微漏電偵測系統(tǒng)（EMMI）、X-Ray檢測，缺陷切割觀察系統(tǒng)（FIB系統(tǒng)）等檢測試驗。實現(xiàn)對智能產(chǎn)品質(zhì)量的評估及分析，為智能裝備產(chǎn)品的芯片、嵌入式軟件以及應(yīng)用提供質(zhì)量保證。 參展單位簡介： 英鉑科學(xué)儀器（上海）有限公司 馮明龍 18866607706  英鉑科學(xué)儀器(上海)有限公司是一家專注于半導(dǎo)體晶圓級測試系統(tǒng)、微納米科學(xué)等領(lǐng)域提供綜合性解決方案的企業(yè)，為全國各大高校、科研院所及企事業(yè)單位提供先進的半導(dǎo)體測試系統(tǒng)及微納米科學(xué)儀器設(shè)備，助祖國半導(dǎo)體科學(xué)事業(yè)的騰飛貢獻一份綿薄之力! 山東華芯半導(dǎo)體有限公司 韓云水 15553139386  華芯公司起步于2008年，正值中國集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展觀望期，走到一條從無到有探索之路。2015年以前，根據(jù)省政府“先兩頭、后中間“戰(zhàn)略部署，華芯采取自主構(gòu)建產(chǎn)業(yè)鏈模式探索發(fā)展路徑，之后依據(jù)自身實際積極進行戰(zhàn)略調(diào)整，經(jīng)過近十年發(fā)展，已成為中國領(lǐng)先的固態(tài)硬盤主控芯片和解決方案供應(yīng)商。 |
