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[分享]馬赫-曾德爾干涉儀 [復制鏈接]

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只看樓主倒序閱讀樓主發(fā)表于: 2021-04-16

摘要

干涉測量是一種光學計量的重要技術(shù)。它被廣泛應用于表面輪廓，缺陷，機械和高精度熱變形等領(lǐng)域的測量。作為一個典型的例程，在非序列場追跡的幫助下，我們在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-曾德爾干涉儀，本案例清楚地展示了光學元件的傾斜和移位對干涉條紋圖案的影響。

建模任務

元件傾斜引起的干涉條紋


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