傳統(tǒng)意義上，Essential Macleod的設(shè)計(jì)是由一系列完全干涉的薄膜組成，并只在基板的一側(cè)形成膜層。而Stack是由一組膜層和基板組成，基板的兩個面是平行的，以便在相同材料中傳播角度相同。Stack中，膜層被介質(zhì)（或基底）分開，介質(zhì)（或基底）由其材料和厚度定義。入射介質(zhì)和出射介質(zhì)是半無限的，但其它介質(zhì)的厚度都是有限的。另一方面，膜層是繼續(xù)支持完全一致性，即完全干涉。這通常是真實(shí)膜層和基底的情況，即考慮基板后表面反射或者鍍膜的情況。 PUX;I0Cf  
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為什么介質(zhì)或基板不支持干涉？這是一個系統(tǒng)問題。基板的厚度通常以毫米而不是納米來測量，因此路徑差異非常長。入射角、波長和厚度的微小變化，雖然對路徑差異的比例效應(yīng)很小，但對它們所代表的相位變化有很大影響，因?yàn)樵S多波長都涉及到這些路徑差異。當(dāng)各種光線組合在一起時，干涉條紋會被沖掉，只留下總的輻照度。在單個設(shè)計(jì)文檔時，我們總是假設(shè)使用完全準(zhǔn)直的單色光，其中入射角和波長變化的相應(yīng)影響通常很小，可以忽略不計(jì)，從而在設(shè)計(jì)中存在完全相干效應(yīng)。 PFK  '$  
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