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摘要 J ^R=dT! )-* 5v
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楊氏干涉實(shí)驗(yàn)是顯示光的波動(dòng)特質(zhì)的著名實(shí)驗(yàn)之一。這是當(dāng)今幾個(gè)量子光學(xué)實(shí)驗(yàn)的基礎(chǔ)。 我們通過使用可調(diào)節(jié)狹縫寬度和狹縫距離的雙狹縫，在VirtualLab Fusion中重現(xiàn)了這個(gè)著名的實(shí)驗(yàn)。 n
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使用一個(gè)單點(diǎn)光源，我們檢查了縫隙寬度和縫隙距離對(duì)干涉的影響；在擴(kuò)展光源的情況下，我們觀察到干涉對(duì)比度如何隨光源的橫向擴(kuò)展而變化。 ~{sG| ;/!*
.EM `. ctE\ q 任務(wù)描述-單個(gè)軸上點(diǎn)光源 wtje(z5IL C8FB:JNJV *m?/O} R 固定狹縫距離（500μm）和變化的狹縫寬度 L(&&26Y ;M"9$M' #o1=:PQaC 固定狹縫寬度（100μm）和變化的狹縫距離 %*BlWk !Q ;b-XWK= 95e l'K[R D3|I:Xm 任務(wù)描述-單個(gè)離軸點(diǎn)光源 p K0"%eA j?'GZ d"B  13taF V dU |
