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一個膜系的吸收率是一個可以計算的參數，它能與反射率和透射率一起作為二維和三維圖的可選參數列出。此外，還有兩個工具可以處理吸收率，它們隱藏在設計分析部分，即Absorptance Rate和Total Absorptance。這兩個工具到底是做什么的？ EPdR-dC^wE
TzerAX^ 吸收率是一種測量膜層損失能量的方法。嚴格地說，它應該是轉化成熱量的東西，但通常只把它作為反射光和透射光中所缺少的東西的一種度量。因為與真正的吸收相比，大多數其他的損耗通常都很小，而且由于它們和吸收一樣，與電場振幅的平方成正比，所以任何差別都很小。不管怎樣，大多數工程師都喜歡對總損失進行衡量。對于Essential Macleod而言，薄膜材料的消光系數就是與吸收相關的參數。它所代表的損失取決于它的測量方法。因此我們寫了一個光學薄膜 1R1J/Z*V/
kS3wa3bT 1=R+T+A (1) QT^W 00 h 如果結果以百分比表示，則左側變?yōu)?00。這就是設計吸收率的計算方法。 ?%B%[u
#OH# &{H 現在讓我們考慮一層厚度為dt的薄層埋在膜層內。每單位面積薄層中的功率損失將是凈入射輻照度（Ienter）和凈出射輻照度（Iexit）之間的差值。這可以通過各種方式進行操作。 -F@Rpfrj_#
c 7P "1 將入射到整個涂層上的輻射強度設為Iincidence，薄片的吸收率為dA，勢吸收率為da。則 D.U)R7(
uppA`>  (2) VA .:'yQtJ  (3) ~Ui<y=d
wD}[XE? S 然后，膜層中的總吸收率簡單地是（2）在膜厚度上的積分。 VO[s:e9L
uu]<R@!J 圖1顯示了使用具有無吸收低折射率材料（SiO2）和輕微吸收的高折射率材料（TiO2）薄膜的窄帶濾光片的一些結果。電場分布的平方很好地解釋了吸收率變化。勢吸收率幾乎相同，因為反射率為零，但膜層前面部分的吸收降低了分母上的Ienter的值，因此膜層后部的吸收率逐漸增加。 MQw{^6Z >1 _T8#36iR  EZE/~$`3  !,INrl[ [ gx<7 }[ 圖1具有吸收高折射率材料和無吸收低折射率材料的窄帶濾光片的計算。由于反射率為零，吸收率和勢吸收率幾乎相同。 /dh w~|
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