非球面光學元件，特別是其中的自由曲面元件，在設計自由度上相比于球面具有很大的優(yōu)勢，基于非球面構(gòu)建的光學系統(tǒng)能夠以簡單的光機結(jié)構(gòu)實現(xiàn)復雜的設計目的。面型檢測技術是保障光學非球面加工精度的關鍵，針對不同種類的非球面以及非球面加工的不同階段對檢測指標要求的多樣性，現(xiàn)已發(fā)展出了種類繁多的檢測方法。本文回顧了非球面光學元件面型檢測技術的發(fā)展歷程，分非干涉法與干涉法兩大類整理了常用的檢測技術，介紹了各自的技術指標與適用條件、研究進展與應用情況。本文重點討論了基于干涉方法的非球面精密檢測技術，舉例說明了非零位與零位兩條技術路線下各檢測方法的基本原理、光路結(jié)構(gòu)與檢測能力，對比分析了各方法的優(yōu)缺點與適用范圍，介紹了一些配套算法以及檢測光路的精密調(diào)節(jié)方法。
