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- 注冊時間2020-06-19
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掃描干涉儀是用于執(zhí)行表面高度測量的技術(shù)。 通過利用白光光源的低相干性,僅當(dāng)光程長度差在相干長度內(nèi)時才會出現(xiàn)干涉圖樣。 因此,它可以實現(xiàn)精確的顯微鏡測量。在本案例中,氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構(gòu)建并用于測量表面平滑變化的樣品。 \Zn~y--Z KU_""T
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zQ[e@t ?C_Y2JY 建模任務(wù) 59(} D'lw> @$?*UI6y Kq:vTz&< 仿真干涉條紋 H7Pw>Ta ; No]#RvEd3 *(nu0 走進(jìn)VirtualLab Fusion Z'c9xvy5 h9
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