O$Dj_R# T"Nnl(cO_ 對于電磁場的全面表征,不僅是能量密度的信息,而且是相位的信息都具有關(guān)鍵價值。雖然在
模擬中我們可以直接從數(shù)字數(shù)據(jù)中計算出這些信息,但在真實的實驗室中,則需要更復(fù)雜的方法。測量這種信息的常見工具是Shack Hartmann傳感器,它使用微
透鏡陣列(MLA),通過焦平面上相應(yīng)光點的位移來重建一個入射場的波前。為了研究這類設(shè)備,我們演示了Shack Hartmann傳感器的模擬,以不同的波前作為輸入。
\&s$?r &([yI>% 任務(wù)描述 3,@|kN< U9//m=_ ,j[1!*Z_[ a) 平面波
.wuRT>4G)G - 波長640nm
71HrpTl1fw - 與原點的距離無限大
fR lJ`\ t - 2毫米×2毫米直徑(長方形)
p,2H8I){ b) 傾斜的平面波
[i]%PVGW - 波長640nm
ze#ncnMo - 2.5°傾斜
&_Gu'A({J - 2毫米×2毫米直徑(長方形)
I8:G:s: c) 弱球面波
zXeBUbVi - 波長640nm
"(E%JAwZ^W - 與原點的距離為100毫米
I,?!NzB - 2毫米×2毫米直徑(長方形)
elb}]
+ d) 強球面波
zm^5WH - 波長640nm
_jk+$`[9PL - 與原點的距離為40毫米
l8N5}!N - 2毫米×2毫米直徑(長方形)
^|%7}=e 微透鏡陣列
j(Tk6S -
材料:N-BK7
W o$UV - 凸面-凸面
q%Lw#f - 曲率半徑:5毫米
;0E[ ;
L! - 200 μm × 200 μm 透鏡尺寸(長方形)
6E:5w9_=c - 5×5個微透鏡
:J6FI6 探測器
)$E'2|Gm/ - 輸入場的波前
BKW%/y" - 理想平面波聚焦面的電磁場的能量密度
)0 i$Bo ;UWp0d%
系統(tǒng)構(gòu)件 - 組件 ._}Dqg$ M
cbiO)@I R&1xZFj 微透鏡陣列組件允許輕松定義任意形狀的微透鏡陣列。材料和尺寸通過 Solid選項卡定義,而微透鏡的表面形狀則使用堆棧概念進行配置,并可通過單獨的Surface Add-Ons選項卡訪問。
1?#Wg>7' 該組件可以通過整個
結(jié)構(gòu)或單個微透鏡進行模擬。
7e@Bkq0) V4x6,*)e 系統(tǒng)構(gòu)件 – 探測器 \&%y4=y<sE A,GJ6qp3 >qynd'eToR Camera Detector能夠計算出系統(tǒng)中任何一點的電磁場的能量密度。Electromagnetic Field Detector計算出純的、復(fù)值的場數(shù)據(jù)。如果用戶希望看到這些信息,它還可以計算和提取所述場的波前。
Sy34doAZ hHqsI`7c SCD;(I~4 總結(jié) - 組件... C=PV-Ul+ L"V~MF fZJ
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