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說明 Y/:Q|HnXQ 本示例演示通過1×2端口多模干涉(MMI)耦合器計算寬帶傳輸和光損耗，并使用S參數(shù)在 INTERCONNECT 中創(chuàng)建 MMI 的緊湊模型。(聯(lián)系我們獲取文章附件) D @YM}HXuj FZ}C;yUPD  ( .6tz 綜述 U_zpLpm^ ?tal/uC  q4IjCu+
低損耗光耦合器和光分路器是基于 Mach-Zehnder 的光調(diào)制器的基本組件，是集成電路的關(guān)鍵組成部分。通過在輸入和輸出波導(dǎo)處使用 taper 以確保輸入和輸出波導(dǎo)的模式與干涉區(qū)域之間的良好匹配，可以將損耗降至最低。EME 求解器非常適合表征這些器件，本例中的器件針對TE模式進(jìn)行了優(yōu)化，但該方法可以擴(kuò)展到任何設(shè)計和極化。 <R]Wy}2- 運(yùn)行和結(jié)果 [{.\UkV@ 第1步：優(yōu)化 MMI 幾何結(jié)構(gòu) se*pkgWbz 使用EME運(yùn)行一系列參數(shù)掃描以優(yōu)化 MMI 性能。 Wpg?%+Y · 模式收斂掃描 sN[@mAoH 確保每個單元格中的模式數(shù)量足以給出準(zhǔn)確的結(jié)果，模式收斂掃描是確保仿真結(jié)果可靠的重要部分，應(yīng)作為 EME 仿真文件初始設(shè)置的一部分來完成。下圖顯示輸出端口的傳輸結(jié)果收斂于約15種模式，稍大的值用于確保模式數(shù)量足以滿足本示例中使用的其他掃描（如波長、纖芯長度和錐形寬度）。右圖為從 field_profile 監(jiān)視器獲得的電場強(qiáng)度。 &caO*R<#J} wtgO;w  XN
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