光行天下>光學(xué)設(shè)計(jì)及經(jīng)驗(yàn)>空間探測(cè)相機(jī)光學(xué)系統(tǒng)的雜散光分析和優(yōu)化設(shè)計(jì)

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離線gangzi0801

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關(guān)鍵詞：光學(xué)系統(tǒng)雜散光成像

由于空間光環(huán)境的復(fù)雜性，抑制雜散光對(duì)保證空間相機(jī)成像性能尤其重要，該文針對(duì)寬光譜波段成像的空間探測(cè)相機(jī)光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行雜散光分析和抑制優(yōu)化設(shè)計(jì)。通過SOLIDWORKS和TracePro的無損式數(shù)據(jù)交互建立光機(jī)模型，并從光機(jī)材料的表面特性、機(jī)械結(jié)構(gòu)、鏡片透過率等多角度優(yōu)化雜散光模型，再利用朗伯體光源分別對(duì)正反向進(jìn)行光線追跡，然后結(jié)合光機(jī)模型的半剖圖對(duì)系統(tǒng)關(guān)鍵表面進(jìn)行重點(diǎn)取樣分析。

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空間探測(cè)相機(jī)光學(xué)系統(tǒng)的雜散光分析和優(yōu)化設(shè)計(jì).rar (2503 K) 下載次數(shù):29 ，售價(jià):2光幣[記錄]

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離線ka2012

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離線420200590

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HAODONGXI,XUEXIXUEXI

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離線420200590

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離線sac

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