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線下課程培訓(xùn)FRED雜散光分析與控制設(shè)計 主辦單位：訊技光電科技（上海）有限公司；蘇州黌論教育咨詢有限公司 授課時間：2023年11月27（一）-29日（三）共3天 AM 9:00-PM 16:00 授課地點：上海市嘉定區(qū)南翔銀翔路819號中暨大廈18樓1805室 課程講師：訊技光電高級工程師 課程費用：4800RMB(課程包含課程材料費、開票稅金、午餐費用) 課程簡介： 雜光理論和雜光問題研究要從以下幾個方面探索：雜散光輻射理論，雜散光合格判定標(biāo)準(zhǔn)、系統(tǒng)雜光測試方法，雜光分析與軟件，BSDF與測量數(shù)據(jù)，雜光抑制設(shè)計等。本課程介紹空間光學(xué)系統(tǒng)的雜散光來源，以及對紅外光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量的影響，在簡化分析上，討論了雜散光分析的物理模型，利用已有的光學(xué)系統(tǒng)模型討論了雜散光計算和分析方法。用具體的模型說明雜散光分析和計算假設(shè)條件，為以后利用軟件進(jìn)行雜散光分析打下基礎(chǔ)。RC望遠(yuǎn)鏡系統(tǒng)，具體突出紅外熱輻射和冷反射計算，在以往的方法中我們通過計算點列圖來實現(xiàn)，但存在諸多的缺陷，如環(huán)境與鏡筒溫度變化、計算量大等缺點，我們將從實際的積分公式出發(fā)進(jìn)行該望遠(yuǎn)鏡系統(tǒng)仿真。 課程大綱： 1. 雜散光介紹與術(shù)語 1.1 雜散光路徑 1.2 關(guān)鍵面和照明面 1.3雜光內(nèi)部和外部雜散光 2. 基本輻射度量學(xué)-輻射 2.1 BSDF及其散射模型 2.2 TIS總散射概念 2.3 PST(點源透射比) 3. 雜散光分析中的光線追跡  |
