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    [分享]常用光學(xué)鏡片透過(guò)率的檢測(cè)方法 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2024-03-06
    關(guān)鍵詞: 光學(xué)儀器檢測(cè)
    在日常生活中,鏡片隨處可見(jiàn),透過(guò)率則是衡量鏡片質(zhì)量的核心參數(shù),透過(guò)率高,成像的質(zhì)量好;透過(guò)率低,成像質(zhì)量差。雖然,對(duì)于鏡片透過(guò)率的測(cè)量經(jīng)過(guò)多年的發(fā)展,已經(jīng)取得了一定的成果,市面上也出現(xiàn)各種各樣的鏡片透過(guò)率測(cè)量?jī)x,但是精度上以及對(duì)測(cè)量的要求上仍需要僅以改進(jìn)。 36(qe"s  
    KPO w  
      光電流檢測(cè) }Y.YJXum  
    w/o^OjwQ  
      光電流檢測(cè)法首先需要進(jìn)行兩次測(cè)量,分別將放入和未放入被測(cè)系統(tǒng)的兩種狀態(tài)下的光電流計(jì)數(shù)值讀出,這個(gè)比值就是被測(cè)系統(tǒng)的透過(guò)率。 e8> X5  
    Zqm%qm:  
      積分球法 ,\"x#Cc f  
    i=#\`"/  
      積分球檢測(cè)法的測(cè)試系統(tǒng)由兩部分組成的: `RSiZ%Al  
    #oTVfY#  
      1.準(zhǔn)直子系統(tǒng),它主要作用是將光源產(chǎn)生的光束近似地轉(zhuǎn)化為平行光束。 L;")C,CwQ  
    l hYJectJa  
      2.探測(cè)器子系統(tǒng),是整個(gè)系統(tǒng)的主要測(cè)量部分,由積分球、硒光電池和檢流計(jì)組成。 1$03:ve1  
    ^-PYP:*  
      回反射檢測(cè)法 '6qH@r4Z<  
    Tx K v!-1  
      回反射檢測(cè)方法的一大特點(diǎn)是專門用來(lái)檢測(cè)紅外波段透過(guò)率的,可以有效地避免誤差的干擾。回反射檢測(cè)方法和上述兩種方法的主要區(qū)別:它的出射光束為兩束,其中一個(gè)作為參考光最終由測(cè)量出的值為參考值,另一束為測(cè)量光最終測(cè)量的值為測(cè)量值,而被測(cè)物體的透過(guò)率為測(cè)量值和參考值的比值。 9_5>MmiB  
    J[6/dM  
      光纖檢測(cè)法 yJC: bD1xi  
    p1niS:}j  
      光纖檢測(cè)法的具體流程:光源產(chǎn)生的光在經(jīng)過(guò)準(zhǔn)直系統(tǒng)準(zhǔn)直后平行進(jìn)入光闌,經(jīng)光闌的遮擋濾除雜散光,光束經(jīng)過(guò)光闌改變光束孔徑大小,然后直接照射在分光鏡上進(jìn)行分光,所得的兩束光再由斬波盤進(jìn)行調(diào)制處理,其中經(jīng)過(guò)分光鏡反射出來(lái)的光為參考光路所用,從分光鏡透射的光為測(cè)量光路所用。 & n@hD7=(  
    @JhkUGG]p  
      RT7512長(zhǎng)波紅外分光光度計(jì)是用于測(cè)試平面光學(xué)鏡片的透過(guò)率與反射率。 YX,;z/Jw2  
    >$rH,Er  
      產(chǎn)品特點(diǎn) \Qah*1  
    V=+|]`  
      1.測(cè)試波段可達(dá)7.5μm-12.5μm xI?'Nh  
    ;hq_}.  
      2.儀器采用單色儀方案,并非傅里葉紅外變換,因此具有更好的測(cè)量精度與更好的信噪比 \[{8E}_"^  
    Z1q<) O1QX  
      3.可在0-60°范圍內(nèi)對(duì)平面鏡片或棱鏡進(jìn)行測(cè)試 }rmr0Bh  
    :!Q(v(M  
      4.具有探測(cè)器自動(dòng)位移功能,補(bǔ)償位移可達(dá)40mm paV1o>_Rd  
    ;q9Y%*  
      5.內(nèi)置起偏器,可實(shí)現(xiàn)7.5μm-12.5μm偏振態(tài)測(cè)試 F~eYPaEKy!  
    GPh;r7xg6  
      產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn) Vbp@n  
    F-:AT$Ok  
      1.測(cè)試透過(guò)率時(shí)入射角范圍0-60° ?SYmsaSr5  
    @*xP A  
      2.測(cè)量比較厚的樣品有光束位移補(bǔ)償 ],!}&#|  
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