概述 y'm5Z-@o6 5+a5pC 相機擋板的設(shè)計需要在光路的不同位置同步多個照度圖,以盡量減少雜散光。2023R2
Speos提供了一種新的
探測器,用于高階雜散光分析,可以同時對多個探測器進行
光線追跡。Light Expert工具可以即時過濾3D視圖中的光線,以識別特定的光路和
光源的貢獻。
/n1L},67h hr3<vWAD 以相機光路為例,簡述light expert group探測器組使用方法。
t:*1*; >Et~h65d5 z8cefD9F 使用方法 2BV]@]qB 2ae"Sd!-2 1.打開camera相機雜散光分析案例,依次設(shè)置lens的
材料光學(xué)屬性,和不同角度的入射光源,在像面位置和孔徑光闌位置分別設(shè)置irradiance sensor,并且layer分層相同。
kbZpi`w T}59m;I
8~y&" \ 61](a;Di 
YFP<^y= 2.在sensors 位置選擇 light expert group ,勾選創(chuàng)建的irradiance sensor到group中,完成對light expert sensor的創(chuàng)建。
JJy.)-R kO4'|<
vH/RP 3.創(chuàng)建direct simulation,選擇所有參與
仿真的幾何體和光源,并且選擇light expert group作為sensor參與仿真,light expert選擇為true,LXP會自動勾選,運算仿真。
yX/{eX5dr Sm;@MI<@/ slAR<8 4.仿真運算結(jié)束,會得到*.lpf結(jié)果和group內(nèi)包含的sensor運算的XMP結(jié)果。
1@n'6!]6O y%O^Zm1 ic}mru 5.打開*.lpf結(jié)果,會同時打開兩個sensor的結(jié)果數(shù)據(jù),并顯示多探測器的路徑追跡,更改選擇的區(qū)域,也會實時更新光線路徑,更直觀查看雜散光。
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