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[技術(shù)]白光邁克爾遜干涉儀 [復(fù)制鏈接]

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只看樓主倒序閱讀樓主發(fā)表于: 2024-09-25

摘要

白光干涉測(cè)量法是一種非接觸式技術(shù)，用于精確測(cè)量，例如表面輪廓和微小位移。使用邁克爾遜干涉儀設(shè)置和氙燈光源，在VirtualLab Fusion中演示了白光干涉測(cè)量。考慮到光源的光譜特性，即有限的相干長(zhǎng)度，結(jié)果顯示僅當(dāng)兩個(gè)臂的路徑長(zhǎng)度幾乎相同時(shí)才出現(xiàn)干涉圖案。

1. 建模任務(wù)

2. 干涉條紋的變化

3. VirtualLab Fusion概覽


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