V_>)m3zsL 時間地點(diǎn) xh7 [{n[; $>72 g.B 主辦單位：訊技光電科技（上海）有限公司；蘇州黌論教育咨詢有限公司
R%(ww 授課時間：2024年12月4 (三）-6（五）共3天 AM 9:00-PM 16:00
Fj0a+r,h! 授課地點(diǎn)：上海市嘉定區(qū)南翔銀翔路819號中暨大廈18樓1805室
r35'U#VMk? 課程講師：訊技光電高級工程師&資深顧問
o(2tRDT\_b 課程費(fèi)用：4800RMB(課程包含課程材料費(fèi)、開票稅金、午餐)
SP&Y| I$: 3?}W0dZ$d 4f}:)M$5 特邀專家介紹 *=6,}rX"I 
M~6x&|2 易葵：中國科學(xué)院上海光機(jī)所正高級工程師，主要從事
光學(xué)薄膜設(shè)計、制備工藝和測試相關(guān)方面的研究工作，尤其是在高功率
激光薄膜、空間激光薄膜、X射線多層膜、真空
鍍膜技術(shù)與薄膜制備工藝研究等方面有較為深入的研究。獲得國家技術(shù)發(fā)明獎二等獎、上海市技術(shù)發(fā)明獎一等獎、上海市科技進(jìn)步二等獎、軍隊科技進(jìn)步二等獎等獎項(xiàng)，入選2014年度中科院“現(xiàn)有關(guān)鍵技術(shù)人才”。
@YH<Hc af:wg]g x vi&d1 課程簡介 # rE#lHo <])w@QOA# 隨著現(xiàn)代科技的飛速發(fā)展，光學(xué)薄膜的應(yīng)用越來越廣泛。光學(xué)薄膜的發(fā)展極大地促進(jìn)了現(xiàn)代光學(xué)儀器性能的提高，其種類非常廣泛，如增透膜，高反膜，分光膜，濾光片等，光學(xué)薄膜器件如今已經(jīng)廣泛應(yīng)用到光通信技術(shù)、光伏產(chǎn)業(yè)技術(shù)、激光技術(shù)、光刻技術(shù)、航空航天技術(shù)等諸多領(lǐng)域。本次課程第一天主要為國際知名的光學(xué)薄膜分析軟件Essential Macleod的使用，第二天為各種類型的光學(xué)薄膜的設(shè)計
模擬方法，前兩天主講人為訊技光電高級工程師，第三天特別邀請上海光學(xué)精密機(jī)械研究所專家易葵，分享光學(xué)薄膜制備工藝、激光薄膜關(guān)鍵技術(shù)以及光學(xué)薄膜的測量方法等相關(guān)內(nèi)容。
c|kQ 3( V4('}Q! 課程大綱 | bHId !d p6VHa$[ 1. Essential Macleod軟件介紹1.1 介紹
軟件
=<_ei|ME 1.2 創(chuàng)建一個簡單的設(shè)計1.3 繪圖和制表來表示性能
.szs? 1.4 通過剪貼板和文件導(dǎo)入導(dǎo)出數(shù)據(jù)1.5 可用的材料模型（Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann）
>%~E < 1.6 特定設(shè)計的公式技術(shù)1.7 交互式繪圖
,| \62B` 2. 光學(xué)薄膜理論基礎(chǔ)2.1 垂直入射時的界面和薄膜特性計算
64#6L.Q-c 2.2 后表面對光學(xué)薄膜特性的影響
3. 材料管理 ~)RKpRga\p 3.1 材料模型3.2 介質(zhì)薄膜光學(xué)常數(shù)的提取
`&)khxT / 3.3 金屬薄膜光學(xué)常數(shù)的提取3.4 基板光學(xué)常數(shù)的提取
`7;I*| 4. 光學(xué)薄膜設(shè)計優(yōu)化方法4.1 參考
波長與g
9Q!X~L|\ S 4.2 四分之一規(guī)則4.3 導(dǎo)納與導(dǎo)納圖
8gA:s`ofJ 4.4 斜入射光學(xué)導(dǎo)納4.5 光學(xué)薄膜設(shè)計的進(jìn)展
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}6?i 4.6 Macleod軟件的設(shè)計與優(yōu)化功能4.6.1 優(yōu)化目標(biāo)設(shè)置
) /'y'd<r 4.6.2 優(yōu)化方法（單一優(yōu)化，合成優(yōu)化，模擬退火法，共軛梯度法，準(zhǔn)牛頓法，針形優(yōu)化，差分演化法）4.6.3 膜層鎖定和鏈接
aZe[Nos 5. 光學(xué)薄膜系統(tǒng)設(shè)計與分析案例與應(yīng)用5.1 減反射薄膜
(I?CW~3# 5.2 分光膜5.3 高反射膜
lC/4CPKtV 5.4 干涉截止濾光片5.5 窄帶濾光片
Cq7EdK;x 5.6 負(fù)濾光片5.7 非均勻膜與Rugate濾光片
c8o $WyO 5.8 仿生蛾眼/復(fù)眼結(jié)構(gòu)5.9 顏色膜
{y{& tz Z 5.10 Vstack薄膜設(shè)計示例5.11 Stack應(yīng)用范例說明
!wws9 6. 薄膜性能分析6.1 電場分布
va(ZGGS]N 6.2 公差與靈敏度分析6.3 反演工程
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