摘要 B[KJR?>  
^k9kJ+x^S2  
建模結(jié)果與測(cè)量數(shù)據(jù)的比較對(duì)于任何光學(xué)元件的設(shè)計(jì)過程都非常重要。因此，有必要將測(cè)量到的高度剖面（例如微結(jié)構(gòu)的高度剖面）導(dǎo)入建模軟件，以評(píng)估真實(shí)元件的性能。因此，在本文檔中，我們將展示如何使用位圖文件導(dǎo)入高度數(shù)據(jù)。 /kfgx{jZ  
y~FV2$  
簡(jiǎn)介 78/Zk}I]