簡介 K;L6<a A# 盡管光學(xué)設(shè)計能夠?qū)?span onclick="sendmsg('pw_ajax.php','action=relatetag&tagname=光學(xué)系統(tǒng)',this.id)" style="cursor:pointer;border-bottom: 1px solid #FA891B;" id="rlt_3">光學(xué)系統(tǒng)的應(yīng)用
參數(shù)(如調(diào)制傳遞函數(shù)MTF、圖像分辨率等)轉(zhuǎn)化為定義明確的技術(shù)圖紙,但其可生產(chǎn)性評估往往只能事后進行,例如通過人工分析,或者使用近年來出現(xiàn)的PanDao軟件[1,2])。未來下一步發(fā)展應(yīng)該就是在
光學(xué)設(shè)計階段就集成生產(chǎn)制造分析功能,甚至是將其直接嵌入光學(xué)設(shè)計
軟件中。本文首次嘗試在光學(xué)設(shè)計的早期階段動態(tài)應(yīng)用PanDao軟件,探索在早期光學(xué)設(shè)計流程中集成生產(chǎn)制造分析功能的可能性。
{JGXdp:SB 成本影響分析 `f)X!S2l 針對特定光學(xué)設(shè)計,我們通過公差分析確定公差范圍,并將其分配到光學(xué)元件及機械結(jié)構(gòu)(包括元件定位與殼體配合)中。本文提出在光學(xué)設(shè)計流程的早期階段動態(tài)運用PanDao軟件,在了解設(shè)備精度能力的基礎(chǔ)上,評估光學(xué)元件公差的級別對制造工藝與成本的影響,然后評估主動對準和校準的需求及其對裝配時間和成本的潛在影響,從而在光學(xué)設(shè)計過程中動態(tài)應(yīng)用PanDao;這與在光學(xué)設(shè)計完成后對其進行標準判斷和比較是恰恰相反的。 ]H {g/C{j
圖1.兩種光學(xué)系統(tǒng)可生產(chǎn)性方案示例
如圖2所示,展示了兩種通過PanDao軟件進行評估的設(shè)計方案,可以從中評估出光學(xué)元件的生產(chǎn)成本。通過此方法,在早期設(shè)計階段就可以將機加工、鍍膜、定心、模具、設(shè)備調(diào)試與維護等成本因素納入評估考量中,并將其用于指導(dǎo)設(shè)計決策。換言之,我們能夠量化不同公差等級對成本的影響,并評估不同良率水平對應(yīng)的成本差異。 Iz_#wO 基于上述信息,結(jié)合其它組裝環(huán)節(jié)的成本數(shù)據(jù)與專業(yè)知識,我們可最終量化各方案的總成本,并據(jù)此選擇最適合特定產(chǎn)品的優(yōu)化路徑。此外,組裝流程規(guī)劃、工裝設(shè)計、校準與測試設(shè)備開發(fā)可并行于光學(xué)元件生產(chǎn)階段,從而大幅縮短元件制造周期。該流程的另一優(yōu)勢在于:通過真實數(shù)據(jù)驅(qū)動的決策鏈,可以實現(xiàn)對全流程的精準控制,并評估每項決策的實際影響。 td!YwN*
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