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- 注冊時間2020-06-19
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摘要 Is}kCf -XV+F@`Md 仿真技術(shù)的主要作用之一是提供一個平臺,以便在系統(tǒng)制造之前研究系統(tǒng)的性能,以便盡可能多地預(yù)防潛在的缺陷。雜散光是影響系統(tǒng)性能的最常見現(xiàn)象之一,雜散光可能有多個來源,其中包括系統(tǒng)中的內(nèi)部偽反射。在這個用例中,我們分析了高Na激光二極管準(zhǔn)直透鏡系統(tǒng)中這種反射的存在,我們模擬了產(chǎn)生的鬼像對探測場的影響(由主準(zhǔn)直光束的干涉引起的同心環(huán)圖案和由雜散光產(chǎn)生的二次發(fā)散),并確定需要在透鏡系統(tǒng)的關(guān)鍵表面上涂上抗反射涂層。 u|Mx} @$%GszyQ' w@cW`PlF BPt? 3tC 建模任務(wù) j"h/v7~ v=lW5%r,' }a~hd*-#
e]88 4FP 7G-?^ 準(zhǔn)直系統(tǒng) O |P<s+ hPBBXj/= &U|c=$!\ p5or"tK 非序列追跡 EXVZ?NG 2y^:T'p
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