光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)軟件Optilayer使用實(shí)例：評(píng)估設(shè)計(jì)曲線 >}86#^F  
"}uV=y  
例:評(píng)估一四分之一波片的光譜特性: Angt=q
 
Ys
td[  
參數(shù)為：QWM@500,     12L     基底:GLASS(1.52) .?r}3C
h  
B> zQ[e@t  
層材料:MgF2(1.38),ZnS(2.3). u/5)Yx+5_  
PxJvE*6^H  
Evaluation：新建工作目錄：File_Problem，出現(xiàn)問題目錄(Problem directory),輸入目錄名稱，單擊OK. XZ|\|(6Cc  
1*B'o<?P1  
打開Datebase窗口并輸入基底和層材料：Date_Design(Substrate或Layer Material都可) 出現(xiàn)Datebase窗口： ,go$6  

圖片:o1.jpg

_No<fz8  
"GAKi}y">v  
單擊Substrate或Layer Material可分別輸入基底和層材料，基底輸入：單擊NEW，輸入基底名稱， g<i>25
2>  

圖片:o2.jpg

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