光學(xué)薄膜設(shè)計軟件
Optilayer使用實例：設(shè)計和優(yōu)化示例
t93iU? Z heF<UMI 參數(shù)為：500-600nm AR QWM@500, 12L 基底:GLASS(1.52)
$d[ -f eU WZ#|?pJ 層材料:MgF2(1.38),ZnS(2.3).
PNn- @=% <;T$ ?J9 設(shè)計：同Evaluation過程基本一樣，區(qū)別在于多加入了設(shè)計目標Target的輸入.打開Datebase窗口并單擊Target，輸入設(shè)計目標500-600nm范圍的減反膜：
~C;1}P%9x 
c <T'_93 L EM^8G]O 單擊New，輸入目標名稱AR500-600，單擊OK.出現(xiàn)目標輸入窗口：
aucQZD-_" 
?M02|8 - [p
6#fG * 圖中Characteristic(s)項可以改變所要考察的參數(shù)的類型，本例中選擇RA。The number of spectral points項即為表述目標波長500-600nm范圍的AR膜所需
光譜點數(shù)，可自己根據(jù)經(jīng)驗輸入，也可由本軟件給出的經(jīng)驗公式算出（點擊？輸入?yún)?shù)即可）。
>mWu+ Nn: 
BAQ;.N4 BUp,bJpO 單擊Next_Apply即可。
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