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2010年8月15日CODE V和Lighttools高級培訓班通知

發(fā)布：sheehan 2010-07-28 10:52 閱讀：3427

為適應我國光電行業(yè)飛速發(fā)展的需要，提高我國光學設計人員的專業(yè)水平，北京理工大學光電學院、上海理工大學光電信息與計算機工程學院、上海歐熠光電科技有限公司和《光學技術》雜志社擬于2010 年8 月16 日至8 月20 日在上海理工大學光電信息與計算機工程學院舉辦為期5 天的《光學設計高級培訓班》。培訓班分為“CODE V—成像光學系統設計”、“LightTools—照明光學系統設計”兩個班并行上課，將全部用中文授課（英文教材），由美國Optical Research Associates（ORA）公司的華裔專家、北京理工大學教授、上海歐熠光電科技有限公司工程師主講，并配有CODE V 和LightTools 軟件的上機實踐與練習，每人一機。
培訓班日程和內容如下：
(1) CODE V—成像光學系統設計
8 月16 日： CODE V 入門（北京理工大學教授）
            CODE V 軟件的界面使用方法；系統參數的輸入方法；通過設計實例介紹
            CODE V 的基本功能，包括初始結構選取和評價、結構優(yōu)化、像質分析、成像模擬、對玻璃、對樣板、公差分配、加工圖紙制等整套設計過程。
8 月17 日：反射光學系統、無焦光學系統、變焦光學系統設計（北京理工大學教授、ORA 公司華裔專家）
            反射光學系統的描述；無焦光學系統建模；望遠鏡設計實例；多重結構系統（包括變焦鏡頭）的設置、分析和優(yōu)化。
8 月18 日：高級優(yōu)化和公差分析功能（ORA 公司華裔專家）
            優(yōu)化中復雜邊界條件的設置和控制；以MTF 作為評價函數的優(yōu)化、全局優(yōu)化、考慮加工裝配誤差影響的優(yōu)化等高級優(yōu)化功
            能；針對像質或畸變的公差分析；基于解析導數或隨機抽樣的公差分析；補償器的定義和使用。
8 月19 日：干涉圖與計算機輔助裝調、光束分析傳播與激光系統（ORA 公司華裔專家）
            CODE V 軟件中干涉圖的使用方法：描述表面加工誤差或變形、描述非高斯切趾或復雜光瞳、與干涉儀聯用實現計算機輔助裝
            調；衍射光束分析傳播（Beam Synthesis Propagation）與激光光學系統的設計和分析。
8 月20 日：宏語言編程、COM 接口和軟件功能擴展（ORA 公司華裔專家）

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2010年8月15日CODE V和Lighttools高級培訓班通知