是否說光譜的極大值與極大值之間,極小值與極小值之間相差較大,就判定有吸收,還有初始時(shí)的K一般設(shè)為多大?是否設(shè)的大小與后來算出來的有很大關(guān)系? du,mbTQib
因?yàn)槲覀冮_始做一個(gè)材料的工藝時(shí),比如TIO2,就要考慮放多少氧才能不吸收,放氧多了畢竟不好(致密性不好),所以我想做的是沒有參考工藝時(shí)判定材料有無吸收. A .]o&S}
我用fit a dispersion formula 計(jì)算得到NK很離譜,是否是因?yàn)槲覝y量的T的取值間隔太大(我從440-800nm,20nm為間隔,但極大與極小值都有特別寫入)? ]: VR3e"H
我看李正中的光學(xué)薄膜與鍍膜技術(shù)中說過,只要知道測量的T值和基板的N值,就可以用包絡(luò)法求出材料的NK還有D(厚度),怎么在實(shí)際中沒遇到這樣的軟件呢? rCOH*m&
大俠們,給條明路呀
